布魯克Bruker Dimension IconIR 納米尺度紅外光譜
名稱：光譜儀
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型號：
簡介：布魯克大樣品臺Dimension IconIR系統將納米紅外光譜技術（AFM-IR）和掃描探針技術（SPM）集成到一個平臺，為學術界和工業界用戶提供先進的納米光譜、化學成像和物理性質成像工具。IconIR結合了數十年的研究和技術創新，基于D...
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- 產品介紹
布魯克大樣品臺Dimension IconIR系統將納米紅外光譜技術（AFM-IR）和掃描探針技術（SPM）集成到一個平臺，為學術界和工業界用戶提供先進的納米光譜、化學成像和物理性質成像工具。IconIR結合了數十年的研究和技術創新，基于Dimension Icon ?原子力顯微鏡的最新平臺，實現卓越的納米級屬性成像能力。該系統支持相關的顯微鏡和化學成像，具有超高空間分辨率和單層靈敏度，同時其獨特的大樣品臺結構，提供極大的樣本靈活性，大大擴展應用領域。
卓越的納米紅外功能和性能
在單個系統中，IconIR提供高性能納米級紅外光譜、化學成像分辨率和單分子層靈敏度。
Dimension IconIR提供:
· 與FTIR高度一致的高性能納米紅外光譜，優于10nm化學成像分辨率和單分子層靈敏度
· 化學成像可與PeakForce Tapping?納米機械和納米電學關聯
· 高性能AFM成像和極大的樣品靈活性，可容納大尺寸樣品*
· 廣泛適用的應用組件和AFM功能模塊
*標準系統支持150mm大樣品，也可提供能夠容納更大樣品的版本
完整的關聯研究顯微鏡
集成Bruker特有的PeakForce輕敲納米物性成像和納米紅外光譜技術，Dimension IconIR系統的大樣本平臺特別適合于電學或化學反應環境中材料和活性納米系統，甚至是具有強機械異質性的復雜系統的關聯研究。
IconIR提供：
先進的定量屬性成像技術
用于定量納米化學，納米機械和納米電學表征的完整關聯研究方案
包埋在環氧樹脂中的碳纖維的納米化學成像（AFM-IR）
包埋在環氧樹脂中的碳纖維的納米熱物性成像（SThM）
包埋在環氧樹脂中的碳纖維的納米電學成像（PF-KPFM）
高性能納米紅外光譜
PS-LDPE共混物不同區域的高質量共振增強納米紅外光譜，展示了高度的材料敏感性和對納米尺度材料特性的深入解析
布魯克是基于光熱AFM-IR納米紅外光譜技術的發明者，并擁有多項專利和獨特的納米紅外模式。這些模式使IconIR能夠提供與FT-IR光譜一致的高速、高性能光譜。模式的多樣性為工業和學術用戶的廣泛樣本提供測試支持。
IconIR提供：
與FT-IR一致的高性能，豐富，詳細的光譜，實現單分子光譜
共振增強AFM-IR，納米紅外領域的首選技術，已發表大量科學出版物
高性能輕敲模式AFM-IR光譜
超高分辨率化學成像
Icon業界領先的AFM性能和Bruker專利的輕敲AFM-IR成像共同提高了納米紅外技術的空間分辨率和樣品適用性，并將其應用擴展到光熱AFM-IR技術目前尚未解決的領域。
IconIR提供：
· 優于10nm的空間分辨率，用于廣泛的材料類型（包括軟質材料）的化學成像
· 分子層靈敏度用于薄膜及生物結構成像
· 一致，可靠，高質量的可發表數據
· 聚合物薄膜的可靠表面敏感化學測量
超高分辨率PS-b-PMMA嵌段共聚物的輕敲AFM-IR成像 樣品形貌（a）；1730cm-1的紅外成像（b）和1492cm-1的紅外成像（c）分辨突出顯示PMMA和PS的分布。（b）圖中的黃色箭頭所示結構展示了優于10nm的化學分辨率。紅外成像疊加圖（d）顯示組分的分布。
淺表面化學信息檢測
表面靈敏模式采集表面涂層的光譜信息（綠色曲線），共振增強模式采集體積范圍的信息，包括表面涂層和下層體材料（褐色曲線）
采用布魯克最新專利表面靈敏模式，IconIR將探測深度從500納米降低到數十納米，無需制備截面，無縫結合高空間分辨率和高表面靈敏度。
