捷歐路JEOL Serial Block-face SEM 3View 肖特基場發射掃描電子
名稱：其他儀器與工具
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簡介：捷歐路JEOL Serial Block-face SEM 3View 肖特基場發射掃描電子顯微鏡能長時間穩定地提供高電流下的微細探針，與3View2XP（Gatan公司制造）結合使用，能對樣品進行自動切割，自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進...
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- 產品介紹
捷歐路JEOL Serial Block-face SEM 3View 肖特基場發射掃描電子顯微鏡能長時間穩定地提供高電流下的微細探針，與3View®2XP（Gatan公司制造）結合使用，能對樣品進行自動切割，自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構，可以對精細結構進行三維分析。
| JSM-7100F | JSM-7800F | |
| 分辨率 | 1.2nm (30kV)、3.0nm (1kV) | 0.8nm (15kV)、1.2nm (1kV) |
| 加速電壓 | 0.5～30kV | 0.01～30kV |
| 放大倍率 | x 10～1,000,000 | x 25～1,000,000 |
| 3View®2XP | |
| 切割厚度 | 15～200nm (生物類樣品 25～50nm) |
| 切割速度 | 0.1～1.2mm / 秒 |
| 刀片的切割距離 | 1.2mm |
| 樣品臺驅動范圍 | X/Y: ±700μm Z: 600μm |
捷歐路JEOL Serial Block-face SEM 3View 肖特基場發射掃描電子顯微鏡系統簡介
JSM-7100F、7800F和3View®2XP（Gatan產品）組合使用，能獲得大量的大范圍的切片圖像。這樣就能夠進行數百微米區域的三維重構。通過三維重構能夠觀察二維圖像上無法看到的細胞的深處結構。
操作
自動、反復地切割樣品和獲取圖像，能獲得大量的切片圖像。 對獲得的切片圖像，通過軟件進行堆疊、調節、生成三維圖像。
應用數據
小鼠大腦 突觸
細分數據
黃色區域：突觸囊泡
綠化面積：突觸后部增厚部分
紅色區域：突觸后部
樣品: 承蒙瑞典隆德大學醫學系生物成像中心的Deniz Kirik 和 Lina Gefors教授
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