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捷歐路JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡
名稱(chēng)：其他儀器與工具
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：捷歐路JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，最高加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級(jí)分辨率電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。采用JEOL自主研發(fā)的球差...
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- 產(chǎn)品介紹
捷歐路JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，最高加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級(jí)分辨率電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器，掃描透射像（STEM像)的保證分辨率可達(dá)63pm（300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時(shí)）。ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研發(fā)的擴(kuò)展軌道型12極球差校正器。可以在用戶(hù)現(xiàn)場(chǎng)加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。標(biāo)配了全新設(shè)計(jì)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀(guān)察和分析。為了支持用戶(hù)廣泛的需求，研發(fā)了兩種各具特點(diǎn)的物鏡極靴。能安裝超大立體角EDS（能譜儀）、EELS（電子能量損失譜儀）、背散射電子檢測(cè)器及四種STEM觀(guān)察檢測(cè)器。標(biāo)配300kV和80kV下的球差校正數(shù)據(jù),可選的加速電壓范圍從40KV?300kV，使用范圍極廣。新的排氣系統(tǒng)達(dá)到了極高的真空度，在原子尺度的圖像觀(guān)察和分析中，最大限度地減輕了對(duì)樣品的污染和損傷。整體穩(wěn)定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機(jī)械剛度， 在JEM-ARM200F高度穩(wěn)定的技術(shù)基礎(chǔ)之上，把電氣穩(wěn)定性和對(duì)環(huán)境的抗干擾能力提高到新高度。
| 分辨率 | 300 kV，80 kV | |
| 物鏡種類(lèi)※1 | UHR極靴 | HR極靴 |
| STEM分辨率（300kV） 使用STEM校正器 | 0.063nm | 0.082nm |
| TEM分辨率（300 kV） | 線(xiàn)分辨率0.05nm | 線(xiàn)分辨率0.06nm |
| 使用TEM校正器 | 非線(xiàn)性信息分辨極限0.06nm | 非線(xiàn)性信息分辨極限0.08nm |
| 線(xiàn)性信息分辨極限0.09nm | 線(xiàn)性信息分辨極限0.12nm |
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