捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡
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簡介：捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能...
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- 產品介紹
捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實現原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統，采用日本電子獨自開發的像差校正算法，可以自動進行快速準確的像差校正。由此實現了高通量的原子級分辨率成像。此外，新型STEM檢測器不依賴于加速電壓就可以獲得高襯度的輕元素圖像。因此，利用能增強輕元素襯度的新STEM成像技術（e-ABF法）可以更加簡便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰（襯度）圖像。
為了響應近來已成為主流的遠程操作的需求，NEOARM的電鏡室和操作室實行了分離式，主機使用了JEOL的新概念顏色—純白色和JEOL銀色，設計精煉時尚。
捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡配備的新型球差校正器ASCOR能夠校正高階像差（即6重像散，目前阻礙透射電鏡分辨率進一步提高的最大障礙。），ASCOR和Cold-FEG的完美組合實現了從高加速電壓到低加速電壓下的高分辨率。
捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡的JEOL COSMO™采用了全新像差校正算法(SRAM：Segmented Ronchigram Auto-correlation function Matrix)，校正像差不需要交換標準樣品也可以快速精確地校正至高階像差。與采用傳統校正算法的系統相比，JEOL CMSMO™能夠高速處理數據，并且使操作進一步自動化。因此，客戶在工作流程中可以簡便高效地進行高分辨率觀察及各種元素分析。
捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡的ABF檢測器作為高分辨觀察輕元素的有效手段已被廣泛使用。“NEOARM”支持能增強輕元素襯度的新ABF成像技術（e-ABF：enhanced ABF），實現了對含有輕元素樣品的原子級結構的觀察。
捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡的STEM系統標配的Perfect sight檢測器作為混合檢測器，采用了由不同材料制成的閃爍器。該檢測器具有極佳的寬電壓適應性，不依賴于加速電壓始終都可以獲得高襯度的STEM圖像，并可用于定量STEM的分析研究工作。捷歐路JEOL JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡標配的Viewing Camera系統是以遠程操控為前提而設計的利用雙相機觀察圖像的系統。此系統允許主機房和操作間分離，因此能夠靈活地安排操作環境。電鏡主機采用的純白色和JEOL銀色在室內協調美觀，外觀設計精煉簡潔。
| 分辨率 |
STEM HAADF 圖像: 70 pm (200 kV)、100 pm (80 kV)、160 pm (30 kV) TEM 信息分辨率: 100 pm (200 kV)、110 pm (80 kV)、250 pm (30 kV) |
| 電子槍 | 標配冷場電子槍 |
| 球差校正器 | STEM: NEO ASCOR HOAC、TEM: CETCOR with DSS |
| 校正器自動合軸系統 | 日本電子NEO JEOL COSMO™ 自動合軸系統、Ad-hock合軸（SIAM） |
| 加速電壓 | 30 ～ 200 kV（ 標配30、80、200 kV；選配60、120 kV） |
| 無磁場模式 | 標配洛倫茲模式、放大倍數 ( ×50 ～ 80 k熒光屏為參考面) |
| 樣品移動系統 | X,Y,Z 軸高精度機械驅動、標配超高精度壓電陶瓷驅動 |
| 操作類型 | RDS 操作模式 |
