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布魯克Bruker JV-QCRT 半導(dǎo)體計(jì)量?jī)x

名稱(chēng)：其他儀器與工具

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簡(jiǎn)介：布魯克Bruker JV-QCRT 半導(dǎo)體計(jì)量?jī)x系統(tǒng)使用最新的x射線衍射成像(XRDI)技術(shù)來(lái)識(shí)別高價(jià)值基質(zhì)中的缺陷,如CdTe密度和其他材料。由于x射線衍射的本質(zhì),與光學(xué)技術(shù)不同,晶片不需要蝕刻或拋光能夠看到的缺陷。CdTe CdHgTe...

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布魯克Bruker JV-QCRT 半導(dǎo)體計(jì)量?jī)x系統(tǒng)使用最新的x射線衍射成像(XRDI)技術(shù)來(lái)識(shí)別高價(jià)值基質(zhì)中的缺陷,如CdTe密度和其他材料。由于x射線衍射的本質(zhì),與光學(xué)技術(shù)不同,晶片不需要蝕刻或拋光能夠看到的缺陷。CdTe CdHgTe廣泛用于紅外探測(cè),特別是夜視,薄膜太陽(yáng)能電池。對(duì)于這些應(yīng)用程序,生長(zhǎng)晶體的質(zhì)量就變得很重要。布魯克Bruker JV-QCRT 半導(dǎo)體計(jì)量?jī)x用于檢測(cè)晶體和基質(zhì)的處理。