艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System
名稱：其他儀器與工具
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簡介：艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System是艾克賽普公司全權代理臺灣Chroma公司的產品。以下是長沙艾克塞普儀器設備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog T...
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- 產品介紹
艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System是艾克賽普公司全權代理臺灣Chroma公司的產品。以下是長沙艾克塞普儀器設備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System的產品特性和功能應用，如有疑問或者需要相關資料，請聯系長沙艾克賽普儀器設備有限公司www.home-e.net.cn，可提供樣機和相關工程師上門演示溝通，聯系電話：0731-84284278 84284378。
艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System產品特性：
50/100MHz測試工作頻率
1024個 I/O 通道(I/O Channel)
32M (64M Max.) Pattern 記憶體 (Pattern Memory)
Per-Pin 彈性資源架構
512 DUTS 平行測試功能
96個電源通道
硬體規則模式產生器 (Algorithmic Pattern Generator)
BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
好學易用的 WINDOWS 7作業環境
每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
每片 HDADDA 混合訊號單板可支援32通道
彈性化的 MS C/C++ 程式語言
即時pattern編輯器，含Fail pin/address顯示
測試程式/測試pattern轉換軟體(J750-EX)
多樣化測試分析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool,Histogram tool 等
最經濟實惠的SoC和消費性混合信號晶片產品測試方案
艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System功能應用：
艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System平行測試功能
艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System可在一個測試頭中，提供最多 1024個數位通道，并具備高產能的平行測試功 能，最高可同時測試512 個待測晶片，以提升 量產效能。在Chroma 3650-EX中，每片單一的 HDLPC板擁有128個數位通道，并結合具備高效 能基礎的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4個數位通道的時序產生器，以提供50ps 以 內的精準度。
艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System彈性化架構
雖然半導體產業是一個變化快速的產業，但其 資產設備應建立在可符合長時間需求的設備之 上。艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System在設計其架構時，應用先進 的規劃，具備AD/DA轉換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組、類比測試模組等等選配，以確保 符合未來多年的測試需求。另艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System具 有MRX(Mixed-Signal and Rf boX)模組，可實現從 設計端至量產端使用同一PXI平臺已減少因硬體 不同所造成的測試誤差。
CRISP (軟體測試環境)
架構在Windows 7作業系統上的Chroma 3650-EX 的軟體測試環境CRI SP(Chroma Integr a ted Software Plat form)，是一個結合工程開發與量 產需求的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執行控 制模組、資料分析模組、程式除錯模組以及測 試機臺管理模組。透過親切的圖形人機介面的 設計，CRISP提供多樣化的開發與除錯工具，包 含:Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿足研發/測試工程師開發程式時的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復任一測試 參數，包含時序、電壓、電流等，以評估其測試 流程之穩定度。
在量產工具的部份，透過特別為操作員所設計 的OCI (Operator Control Interface)量產平臺，生產 人員可輕易地控制每個測試階段。它提供產品導 向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650-EX、 晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設計者可 先行在Production Setup Tool視窗之下設定OCI的 各項參數，以符合生產環境的需求。而操作員所 需進行的工作，只是選擇程式設計者已規劃好的 流程，即可開始量產，大幅降低生產線上的學習 的時間。
艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System最低價位的測試解決方案
要配合現今功能日趨復雜的IC晶片，需要具備功 能強大而且多樣化的測試系統。為了達成具成 本效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時 間和整體成本來達成，而非只是簡單地減少測 試系統的價格而已。Chroma 3650-EX的設計即 是可適用于所有類型的應用環境，例如 : 工程驗 證、晶圓測試和成品測試。周邊設備。Chroma 3650-EX支援多種裝置的驅動程式介面(TTL& GPIB ) ，可進行與晶圓針測機和送料機，包括Chroma Handler、SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTITEST 、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等 等裝置之間的溝通。
應用支援
不管是新客戶或是現有客戶，Chroma 均提供廣 泛的應用支援，以確保所有的設計皆能精準地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產 量、把握新興市場的機會、提高生產力、以創新 策略降低測試成本、或在尖峰負載情況下增加容 量，Chroma 位于全球的客服支援人員皆會竭盡 所能提供客戶即時解有效率的解決方案。
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