艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統(tǒng)
名稱：其他儀器與工具
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簡介：艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統(tǒng)整合了2D 幾何計算、表面瑕疵、微裂隙檢查、鋸痕檢查等光學檢測功能，并依客戶需求制定Thickness檢查及Lifetime測試，是一套可針對使用者全方位客制化的光伏芯片檢測系統(tǒng)。具有...
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- 產(chǎn)品介紹
艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統(tǒng)整合了2D 幾何計算、表面瑕疵、微裂隙檢查、鋸痕檢查等光學檢測功能，并依客戶需求制定Thickness檢查及Lifetime測試，是一套可針對使用者全方位客制化的光伏芯片檢測系統(tǒng)。具有高產(chǎn)能及低破片率的優(yōu)點，非常適合用于進料端，芯片可依使用者定義自動分類到堆迭盒或卡式盒內(nèi)，獨特的自動轉(zhuǎn)換技術(shù)可以大量節(jié)省人工轉(zhuǎn)換所需的系統(tǒng)待轉(zhuǎn)時間，并應(yīng)用高科技化的技術(shù)，確保光伏芯片輸送系統(tǒng)中重要關(guān)鍵之一的低破片率。以下是長沙艾克塞普儀器設(shè)備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統(tǒng)的產(chǎn)品特性和功能應(yīng)用，如有疑問或者需要相關(guān)資料，請聯(lián)系長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司www.home-e.net.cn，可提供樣機和相關(guān)工程師上門演示溝通，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。
艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統(tǒng)產(chǎn)品特性：
適用于 5 吋及 6 吋光伏芯片
高產(chǎn)能及 0.2% 以下之低破片率
2D 幾何計算檢測
芯片表面瑕疵檢測
微裂隙檢測
鋸痕檢測
Resistively/Thickness 測試
壽命測試
簡易的疑難排解程序
進料 : 堆迭盒 / 卡式盒
分類 : 堆迭盒 / 卡式盒
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