布魯克 BRUKER TENSOR FTIR光譜儀
名稱：光譜儀
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簡介：如果您需要對樣品進行快速識別、定量分析及鑒定，布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀是您實驗室的最佳選擇。布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀具有優良的性能和杰出的擴展性，操作界面簡單、直觀。 簡單易用：用戶自定義界面、簡單...
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- 產品介紹
如果您需要對樣品進行快速識別、定量分析及鑒定，布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀是您實驗室的最佳選擇。布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀具有優良的性能和杰出的擴展性，操作界面簡單、直觀。
簡單易用：用戶自定義界面、簡單的測量模塊及直觀的軟件向導功能都是布魯克OPUSTM軟件的標準配置，所有的操作和分析評價功能均可用于處理批量文件。這些特點使得軟件使用和儀器操作都變得非常容易，所以即便是非專業的操作人員也可順利地使用布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀。
高度靈活性：布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀不僅可以用于日常的質量檢測分析，也可擴展為研究型的紅外光譜儀。種類齊全的紅外采樣附件確保您輕松的選擇合適的采樣模式。布魯克 BRUKER TENSOR紅外光譜儀的外接擴展光路，可用于各種高端的應用，如紅外顯微鏡分析、熱分析紅外聯用系統、高通量篩選裝置和光譜成像裝置等。豐富的樣品倉內置附件和外置附件可滿足您的各種應用。
強大的擴展功能：布魯克 BRUKER TENSOR 37 可以通過光學組件的簡單切換，將標準的中紅外譜區擴展到遠紅外或者近紅外譜區。傅立葉變換近紅外光譜儀具有獨特的優勢：通常情況下，樣品無需稀釋即可進行測量，由于玻璃在近紅外波段是透明的，樣品可以直接放置在玻璃瓶中進行分析。石英光纖可以使近紅外光遠距離傳輸，進行樣品的遠程測量和過程的在線控制。
Bruker人工智能網絡：布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀可以自動識別各種光學器件（如光源、分束器、檢測器或激光器）和采樣附件。與此同時，程序也會自動調入相關的實驗參數為您的樣品測試做好準備。布魯克 BRUKER TENSOR紅外光譜儀使用PerformanceGuardTM在線監測功能，確保不間斷的監測所有的光學器件和采樣附件是否正常運行。
高性能設計：布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀專為當前典型的實驗室需求而設計，布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀集操作簡單、高性能設計和高性價比等優點于一身。布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀提供永久準直的光路、最佳的靈敏度和最高的光通量，這些特點均歸功于專利設計的立體角鏡干涉儀RockSolidTM。與傳統的平面鏡干涉儀相比，立體角鏡干涉儀可以從光學原理上消除準直誤差，確保光路永久準直。
性能認證：布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀Q/OQ/PQ等系統認證。
專利權：采用的技術受以下一項或多項專利權的保護：US 7034944; US 5923422; DE 19940981。
優異的設計：布魯克 BRUKER TENSOR II的設計既適合普通樣品的常規測試，也適合與各種附件聯用。儀器整機堅固耐用，密封性良好。
外接附件和樣品倉可選附件：布魯克 BRUKER TENSOR II可以外接一個光路擴展附件，最多可有4個光路輸出口，聯接多種外置附件。
HYPERION系列紅外顯微鏡、HYPERION 3000紅外成像系統 、HTS-XT高通量篩選附件 、焦平面陣列快速成像附件、TGA模塊、用于VCD和PM-IRRAS偏振調制的PMA 50附件、氣相紅外聯用附件、外接樣品倉，可以抽真空或氮氣吹掃、聯接UHV的真空密封外接腔、積分球附件、液體自動進樣器。
先進的電子設計：布魯克公司擁有DigiTect專利技術的檢測器，基于最新的雙通道模數轉換器，真正的24位動態范圍，使電子噪聲值達到最低。TENSOR II標配的DTGS檢測器，提供獨特的Power-Mode模式，可以在低光通量的情況下顯著提高信噪比。
擴展性：布魯克 BRUKER TENSOR II可以配置不同的分束器使光譜范圍達到近紅外或遠紅外。根據不同的光譜范圍，用戶自己可以非常容易的更換光源和檢測器，更換之后主機可以自動識別這些光學元件。
布魯克 BRUKER TENSOR II可廣泛用于常規QC/QA分析，此外，無論您需要哪種配置，布魯克 BRUKER TENSOR II都能提供最佳的測量性能和最高的靈敏度。種類齊全的內置式和外置式測量附件使之可以滿足工業研發與學術研究的各種高級應用。
制藥及生命科學：蛋白質構象及濃度定量（配套CONFOCHECK附件）、對水溶液中藥物成分和賦形劑的高靈敏度的定量分析、微生物鑒定、生物組織的化學成像（配套HYPERION紅外顯微鏡）、同分異構手性材料分析（配套VCD附件）、氣/水界面的脂/蛋白單分子膜的研究、與熱分析聯用對醫藥產品的揮發性、穩定性進行表征。
聚合物和化學制品：對不均勻的聚合物和多層材料進行化學成像（配套HYPERION紅外顯微鏡）、與熱分析聯用對揮發過程和分解過程進行檢測和表征、實驗室條件下的反應過程的監控（配套中紅外光纖）。
表面分析：超薄膜和單分子層薄膜的檢測和表征、腐蝕過程的表征、將化學成像用于涂層均勻性分析（配套HYPERION紅外顯微鏡）。
建筑材料：與熱分析聯用進行耐熱材料的特性評價。
材料科學：建筑材料發射率的檢測、紅外窗片、鏡面等光學材料的特性評價、采用光聲光譜對黑色材料進行研究。
半導體硅業：質量控制中碳/氧雜質的測定。
土壤分析：土壤中養分和有機質的評估、土壤特性研究。
