布魯克Bruker MPA II 傅立葉變換近紅外光譜儀
名稱：光譜儀
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簡介：MPA II：多用途傅立葉變換近紅外分析儀執行特定的分析任務時，選擇最佳取樣方法至關重要。擁有 MPA II，你就擁有了完整的解決方案，可以隨時用于日常的質量保證／質量控制工作中，而且還可以用于復雜的方法開發研究中。MPA II 提供不同的...
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- 產品介紹
MPA II：多用途傅立葉變換近紅外分析儀
執行特定的分析任務時，選擇最佳取樣方法至關重要。擁有 MPA II，你就擁有了完整的解決方案，可以隨時用于日常的質量保證／質量控制工作中，而且還可以用于復雜的方法開發研究中。
MPA II 提供不同的配置，以滿足您的應用需求。
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通常，最初無法確定哪種采樣方法最合適。有了 MPA II 傅立葉變換紅外光譜儀，只需嘗試幾種方法，即可選出最適合你的選項。
可能性無窮無盡，且由于 MPA II 采用模塊化設計，該儀器可以輕松滿足你的需求。該儀器結實耐用，適合用于實驗室和車間。MPA II 可以通過即插即用的以太網線路，連接至您的筆記本電腦，甚至可以放入手推車中，用于流動檢測分析。
樣品腔
帶有可選樣品加熱器的樣品腔，可用于輕松測量比色皿或一次性小瓶中的液體，而不必打開抽屜。
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積分球
積分球用于在漫反射中測量固體和半固體。可選樣品旋轉器確保不同類樣品的測量具有高度的可重復性。
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光纖探頭
光纖探頭可以直接測量容器中的樣品，例如在倉庫中。可以同時連接兩個不同的探頭，用于測量固體和液體。
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自動采樣裝置
自動采樣裝置帶有可選的樣品輪，適用于小瓶或固體樣品的自動分析，例如傳輸中的片劑。
MPA II 綜合了當前世界近紅外光譜的前沿技術，具有杰出的性能和穩定性：
長壽命光源，增強了產品耐用性，降低了維護成本；
經久耐用的固態激光器，可提供最佳波數精度；
永久準直的RockSolid?專利干涉儀，采用了三維立體角鏡技術，均為鍍金處理；能夠提供高精度的測試結果，減少故障的發生頻率，確保儀器的穩定性；
高靈敏InGaAs檢測器，可以提供全波段的線性響應，保證最佳精確性和再現性。
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MPA II 優良的人性化設計使儀器維護方便快捷，大大節省了維護時間和成本。易耗品（如激光管和光源）都設計成長壽命型；但如需更換，系統將會自動提示用戶，并在線提供更換部件的幫助信息。所有易耗品都采用了預準直設計，可在短時間內快速完成更換。
MPA II 通過以太網卡連接，借助局域網或全球網絡訪問，可實現對儀器的遠程控制和診斷。
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