湖南省長(zhǎng)沙市車站北路湘域智慧南塔6樓
安徽省合肥市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)大道110號(hào)新材料園F9A號(hào)樓511室
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匯能HN2600DX/B 電路測(cè)試儀
名稱：電路板PCB測(cè)試儀
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介： 匯能HN2600MX/B 是一款高性能的線路板測(cè)試儀，支持WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)，使用主流USB通信接口，可以實(shí)現(xiàn)數(shù)字邏輯性能測(cè)試，數(shù)字邏輯器件在線與離線功能測(cè)試，模擬特征分析測(cè)試，單/多端口VI曲線...
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- 產(chǎn)品介紹
匯能HN2600MX/B 是一款高性能的線路板測(cè)試儀，支持WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)，使用主流USB通信接口，可以實(shí)現(xiàn)數(shù)字邏輯性能測(cè)試，數(shù)字邏輯器件在線與離線功能測(cè)試，模擬特征分析測(cè)試，單/多端口VI曲線分析比較測(cè)試，ASA 曲線雙棒動(dòng)態(tài)比較測(cè)試等等。
一、主要技術(shù)指標(biāo)：
1．操作系統(tǒng)：支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。
2．通訊接口：主流的USB接口。
3．?dāng)?shù)字測(cè)試通道： 40通道，支持驅(qū)動(dòng)電平 ±（1～15）V。
4．?dāng)?shù)字通道電平范圍：±15V內(nèi)全邏輯電平通道。
5．模擬測(cè)試通道： 80路（雙屬性通道）。
6．總線隔離專用數(shù)字通道： 8通道。
7．后驅(qū)動(dòng)電流： ≥300 mA。
8．?dāng)?shù)字通道測(cè)試速度： （1～45 Ktv/S）8檔可選。
9．在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 13種。
10．?dāng)?shù)字器件的閾值電平： TTL、CMOS5、CMOS12、ECL、EIA、3.3V緊/松調(diào)節(jié)；自定義調(diào)節(jié)。
11.程控外供電源（自動(dòng)控制、自保護(hù)功能）： 3.3V/2A、5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。
12．電源加電延遲時(shí)間：（0.5～7）秒 6檔可選。
13．測(cè)試探棒: 2組8個(gè)測(cè)試口。
14．模擬信號(hào)掃描電壓幅度： ±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào)。
15．VI分辨率： 8～128點(diǎn)/周期。
16．輸出阻抗匹配： 100Ω / 1KΩ／10KΩ／100KΩ可選。
17．模擬通道最大測(cè)試頻率: 1KHZ。
18．脈沖發(fā)生器脈沖幅度： ±1V～±28V。
19．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通/斷閾值： 25Ω±5Ω。
20．腳踏開關(guān)：支持。
21．參數(shù)測(cè)試模塊：支持。
二、 主要測(cè)試功能：
1. 數(shù)字邏輯器件性能（直流參數(shù)）測(cè)試：
維修實(shí)踐發(fā)現(xiàn)，有些器件的原有功能尚能實(shí)現(xiàn)，但參數(shù)卻發(fā)生了變化，元件性能表現(xiàn)的很不穩(wěn)定，設(shè)備或電
路板仍然不能正常工作，為此天惠公司開發(fā)了針對(duì)集成電路直流參數(shù)的測(cè)試功能，支持對(duì)數(shù)字集成電路的輸入漏
電流和輸出驅(qū)動(dòng)電流等直流參數(shù)測(cè)試。如輸入漏電流（Iih,IiL,Vih,ViL）;輸出驅(qū)動(dòng)電流（IOL，IOh，VOL，
VOh）。
2. 數(shù)字邏輯器件在/離線功能測(cè)試：
能夠?qū)Χ噙壿嬰娖綌?shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試；測(cè)試器件庫(kù)龐大，僅邏輯數(shù)字器件就1 萬多種；
測(cè)試范圍廣：TTL54/74系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、ECL、接口器件、俄羅斯器件、西門子器
件庫(kù)。
3．ASA（VI）模擬特征分析測(cè)試：
ASA測(cè)試通過比較好電路板和故障電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測(cè)故障，可把故障定位到電路結(jié)
點(diǎn)。ASA測(cè)試不涉及器件功能，無論何種元器件，模擬的、數(shù)字的、功能已知的、功能未知的都能檢測(cè)；ASA測(cè)試
是逐管腳進(jìn)行的，基本上不受器件封裝限制，任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測(cè)試。 ASA測(cè)試無需給電路板加電，
使用較為安全。
4．單/多端口VI曲線分析比較測(cè)試：
對(duì)器件采取單端口或多端口的VI曲線測(cè)試方式；單端口測(cè)試方式是指每個(gè)管腳對(duì)地提取一遍阻抗特性曲線，
而多端口是以任一腳做參考提取一遍VI曲線。
5．ASA 曲線雙棒動(dòng)態(tài)比較測(cè)試：
使用雙路探棒對(duì)兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時(shí)時(shí)的進(jìn)行動(dòng)態(tài)比較測(cè)試；當(dāng)被測(cè)板上的器件不能使用測(cè)試夾
測(cè)試時(shí)，此種方法最有效。
6．ASA 曲線測(cè)試智能提醒功能：
當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測(cè)試時(shí)，如果超差，儀器會(huì)出現(xiàn)報(bào)警聲音，引起使用者注意，該測(cè)試方法利用微機(jī)喇
叭產(chǎn)生類似于萬用表Beep的效果，提高了檢測(cè)效率，也大大降低了勞動(dòng)強(qiáng)度。
7．ASA 測(cè)試曲線靈敏度可調(diào)：
當(dāng)ASA曲線走勢(shì)趨向于45度時(shí)，如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化，曲線就變化明顯，反映故障的觀察靈敏度就越精
確，曲線反映故障靈敏度與測(cè)試參數(shù)相關(guān)，適當(dāng)調(diào)整測(cè)試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線；該測(cè)試方法能夠自動(dòng)搜索
出對(duì)故障較靈敏的那根曲線，有效的提高了故障檢出率。
8．可按管腳設(shè)置ASA 曲線測(cè)試參數(shù)：
可根據(jù)具體器件的測(cè)試需要，給不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù)，可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線；
大大提高了測(cè)試的靈活性。
9．ASA 曲線故障快速定位/查找功能：
當(dāng)VI測(cè)試出現(xiàn)故障曲線時(shí)，測(cè)試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項(xiàng)，使用戶觀察曲線更方便、直觀。
10. 對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線有效識(shí)別：
增強(qiáng)了對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線有效識(shí)別的判斷水平，降低了誤判率，進(jìn)一步提高了測(cè)試準(zhǔn)確度。
11. VI曲線參數(shù)值量化功能：
即從被測(cè)電路或器件的ASA曲線中可以獲取相應(yīng)的參數(shù)測(cè)試值并保存,且能夠用寫字板或OFFICE工具軟件直
接進(jìn)行編輯或?yàn)g覽。
12. 求取平均曲線的測(cè)試功能：
用戶可以先測(cè)試多個(gè)器件,得到多個(gè)曲線文件,然后利用該功能把多個(gè)曲線文件平均成一個(gè)曲線文件,作為以
后的測(cè)試比較標(biāo)準(zhǔn)。
13．VI曲線雙板直接對(duì)比測(cè)試:
使用雙路測(cè)試夾對(duì)兩塊相同電路板（一塊好板和一塊壞板）上的相應(yīng)IC同時(shí)進(jìn)行VI曲線提取、存儲(chǔ)和比較
測(cè)試，測(cè)試效率極高。
14．三端器件測(cè)試：
完成對(duì)三端分立元件的動(dòng)態(tài)測(cè)試功能，如三極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管、繼電器等元件測(cè)試。
15．ASA 曲線多種排列/顯示方式：
可按比較誤差降序排列顯示曲線，比較誤差升序排列顯示曲線，還可按器件管腳順序排列曲線；可以“按點(diǎn)
”或“畫線”來顯示曲線，單個(gè)管腳的曲線可以單獨(dú)放大或縮小。
16．電容、電感定量測(cè)試：
可直接在離線狀態(tài)下準(zhǔn)確測(cè)試電容的容量及漏電阻，并展現(xiàn)出電容在充放電過程中不同的阻值的過程；能夠
測(cè)試出電感的電感量及串聯(lián)電阻；
17. 電路板圖象建庫(kù)測(cè)試：
通過數(shù)碼相機(jī)或掃描儀將一塊好的電路板輸入到計(jì)算機(jī)內(nèi),在屏幕上就可以對(duì)該板上各個(gè)集成電路芯片進(jìn)行
編號(hào),以便讓儀器知曉器件所在位置,然后即可對(duì)每一個(gè)器件同時(shí)進(jìn)行邏輯功能在線測(cè)試及VI曲線掃描測(cè)試,從而
建立起整板的測(cè)試庫(kù),當(dāng)需要維修時(shí),只需將該板從計(jì)算機(jī)軟件內(nèi)調(diào)出,就可以直接對(duì)其進(jìn)行故障診斷,適用于批量
電路板的維修。
18．?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測(cè)試：
能夠提取13種復(fù)雜的電路在線狀態(tài)，如開路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號(hào)、非法電平、總線競(jìng)爭(zhēng)等等狀態(tài)，對(duì)測(cè)試器件外
電路的識(shí)別能力強(qiáng)。
19．總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能：
用于解除總線競(jìng)爭(zhēng)，確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373、74LS245、等），可提供8路總線競(jìng)
爭(zhēng)隔離信號(hào)。
20．IC型號(hào)識(shí)別：
針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件，可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試。
21． LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試：
可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。
22．讀寫存儲(chǔ)器功能測(cè)試:
直接檢測(cè)存儲(chǔ)器SRAM / DRAM芯片的好壞，該測(cè)試無需事先學(xué)習(xí)，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù)，可采用在線、離線
測(cè)試方式。
23．只讀存儲(chǔ)器功能測(cè)試：
可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞
板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。
24．元器件循環(huán)測(cè)試功能：
該功能可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試，直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器
件的非固定性故障（或稱為軟故障）。
25．?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)功能：
閾值電平是指判定器件輸出是邏緝１或邏輯０的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還
可選自定義。此時(shí)高閾值可輸入為不大于12V，低閾值可輸入為不小于-12V的電平值。通過調(diào)整器件的閾值電平
，能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動(dòng)能力下降導(dǎo)致的電路故障。
26．加電延遲可選功能：
當(dāng)遇到被測(cè)電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時(shí)可用到此功能。該選項(xiàng)是確定在測(cè)試儀接通外供電源
以后，需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開始進(jìn)行測(cè)試。
27．測(cè)試夾接觸檢查功能：
主要解決當(dāng)測(cè)試夾與被測(cè)器件接觸不良（如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等）時(shí)，造成的測(cè)試
誤判。
28．運(yùn)算放大器在線功能測(cè)試：
使用模擬信號(hào)測(cè)試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性，測(cè)試技術(shù)或國(guó)家發(fā)明專利，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù)，包含
LM324、LM348等共計(jì)3000多種。
29. 電壓比較器測(cè)試：
模擬電壓比較器用于判斷兩個(gè)信號(hào)的微小差異，通過本測(cè)試儀可以很容易測(cè)試。
30．光電耦合器在線功能測(cè)試：
由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵(lì)信號(hào)測(cè)試，方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，準(zhǔn)確度高；有獨(dú)立的光耦測(cè)試器件庫(kù)，
達(dá)500多種。
31．光電耦合器離線直流參數(shù)測(cè)試：
可在離線情況下對(duì)光耦的主要直流參數(shù)（如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等）進(jìn)行測(cè)試，解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)
現(xiàn)的故障現(xiàn)象，提高了故障檢出率；
32．UDT自定義測(cè)試平臺(tái)：
把測(cè)試儀的測(cè)試通道開放給用戶，由用戶對(duì)被測(cè)元件或電路的輸入施加激勵(lì)信號(hào)，然后從輸出采集響應(yīng)信號(hào)
，類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測(cè)試方法。
33. UDT下AD、DA類器件功能測(cè)試：
用戶通過UDT控制匯能測(cè)試儀，向被測(cè)試器件（AD/DA）或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵(lì)信號(hào)，從輸出取
回相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào)，通過比較相同激勵(lì)信號(hào)下，器件/電路的實(shí)測(cè)響應(yīng)信號(hào)與預(yù)期（標(biāo)準(zhǔn)）響應(yīng)信號(hào)的符合程度
，實(shí)現(xiàn)故障檢測(cè)。
34. AFT電路故障追蹤：
AFT可以看成“信號(hào)發(fā)生器+示波器”測(cè)試方式的直接擴(kuò)充。本測(cè)試儀上能夠設(shè)置多種測(cè)試信號(hào)，并且能把
測(cè)試信號(hào)以及好板電路對(duì)測(cè)試信號(hào)的響應(yīng)，關(guān)聯(lián)在一起存放在計(jì)算機(jī)中——建立用戶自己的電路板測(cè)試庫(kù)，用于
對(duì)故障板的測(cè)試；也可以把同樣的測(cè)試信號(hào)同時(shí)加在好、壞板的電路上，直接對(duì)照兩者的輸出結(jié)果。
35．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試:
使用模擬信號(hào)提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系，測(cè)試時(shí)無須加電，通/斷閾值設(shè)置明確。能
夠支持對(duì)用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開路、短路測(cè)試變的更加方便和快捷。
36. 晶體管輸出特性曲線測(cè)試：
可以測(cè)出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小
,以及均勻程度，直觀看到晶體管的三個(gè)區(qū)：截止區(qū)、放大區(qū)、和飽和區(qū)的具體情況。可用于晶體管的篩選，尤
其在晶體管配對(duì)時(shí)特別有用。
37．填表方式擴(kuò)充模擬器件庫(kù)：
以填表的方式定義模擬器件的各個(gè)管腳狀態(tài)：如：正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接
地腳，以及其他狀態(tài)等。
38．以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫(kù)：
采用HNDDL語(yǔ)言，自適應(yīng)技術(shù)完善；把擴(kuò)充程序直接開放給用戶，由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫(kù)。
39．元器件速查手冊(cè)（電子詞典）：
元件庫(kù)容量近四萬種，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。
40．維修日記：
供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì)，發(fā)生的重要事情等，長(zhǎng)期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn)，會(huì)大大提高維修水平和技
能。
41．后臺(tái)操作記錄：
測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過程及測(cè)試結(jié)果等信息。
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