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Accexp透明網(wǎng)片的厚度測(cè)量解決方案
2015-08-14
Accexp透明網(wǎng)片的厚度測(cè)量解決方案可以使用納米分辨率，而且可以在不接觸目標(biāo)的情況下測(cè)量厚度。Accexp透明網(wǎng)片的厚度測(cè)量解決方案的特點(diǎn)就是精度高，可以測(cè)量5um厚度，而且可以測(cè)量多層薄膜。
Accexp透明網(wǎng)片的厚度測(cè)量解決方案由長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司提供，以下是Accexp透明網(wǎng)片的厚度測(cè)量解決方案的產(chǎn)品詳細(xì)信息。如果您有任何疑問(wèn)或者相關(guān)需求，可以聯(lián)系0731-84284278轉(zhuǎn)801，郵箱：shawn.xiao@hncsw.net。長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司可以根據(jù)您的需求定制整套解決方案。
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ACCEXP-SI-F 系列
微型傳感頭型分光干涉式 激光位移計(jì) -
隆重推出業(yè)界超細(xì)微型傳感頭，其擁有同類產(chǎn)品中最高的測(cè)量精度，并實(shí)現(xiàn)了過(guò)去認(rèn)為不可能實(shí)現(xiàn)的性能。
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ACCEXP-SI-F 系列
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ACCEXP-SI-F80R 系列
分光干涉式晶片厚度計(jì) -
采用近紅外 SLD，即使已貼附 BG 帶也可測(cè)量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于圖案而產(chǎn)生的顯著差異，也可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的生產(chǎn)線上測(cè)量。
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ACCEXP-SI-F80R 系列
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